工作职责:
1.负责ATE、RDBI等测试解决方案相关DI TOOLING的验证,测试程序调试、测试数据分析定位问题和评估性能。包含国产化测试方案或tooling的评估导入、现有测试方案的持续优化和降本增效相关工作,以及有关的作业流程和文档管理;
2.负责测试ATE相关DI的综合问题根因调查,包含验证用途测试程序的开发调试、波形的分析、芯片测试数据的分析统计和有关报告的整理;
3.负责新产品、新工艺、新测试方案下的的测试治具的设计、验证和导入工作:DSA/DIB/SOCKET电气特征性能评价等, 并完成相关供应商和导入的项目的管理和质量监控;
4.通过技术创新或自主开发,不断优化现有测试方案以达到测试设备、生产治具、COK\DSA\DIB等的持续降本增效目的;
5.负责提升并培养团队测试与失效数据分析能力、并培训带教新人,建设团队测试与数据分析定位排故能力。
任职资格:
1.教育背景:硕士以上学历;
2.专业背景:电子/电机工程,电气自动化,应用数学,半导体物理与器件、模拟与数字电路设计、计算机、微电子等理工类专业;
3.工具技能:具备DRAM/FLASH 产品测试基本概念和知识,具备Advantest/Teradyne等测试系统软硬件实践经验和工作实绩从优;
4.职业资格:精通半导体ATE测试设备、治具、量产测试相关研发至生产导入验证工作,熟悉相关领域供应商并具备供应商管理经验;
5.专业知识与技能:ATE 测试平台的调试经验或者DDR/FLASH 相关产品经验。(ADV,TER的某款存储器测试机使用经验和电气参数测试、分析测试、量产测试等程序开发或调试项目不限制DDR/FLASH)产品的独立程序调试与存储器产品测试问题定位经验。